Stand Alone SMENA расширяет возможности СЗМ, чтобы предоставить вам передовые аппаратные средства для исследования образцов неограниченного размера во всех доступных измерительных методиках СЗМ. Несмотря на такие многосторонние измерительные возможности Stand Alone SMENA – очень легкий и компактный прибор с умеренной ценой. Ознакомьтесь с двумя основными конфигурациям этой модели. СЗМ SMENA состоит из измерительной головки и блока электроники, который подсоединяется к портативному компьютеру или настольному персональному компьютеру с помощью интерфейсной платы.
$IMAGE2
Stand Alone SMENA device with electronics block (reverse view) and computer
Для того чтобы вам было легче выбрать именно то место на поверхности вашего образца, в котором вы хотели бы начать сканирование, мы рекомендуем вам использовать специально подобранную оптическую систему. Данная система позволяет настраивать AFM и наблюдать за кантилевером и поверхностью образца с разрешением до 5 мкм, при этом ваш оптический микроскоп остается установленным в вертикальном положении. Вы также можете наблюдать изображение, полученное с помощью камеры на мониторе (черно-белом или цветном).
|
$IMAGE3 |
|
XY manual positioning stage |
В некоторых случаях прибор SMENA нельзя использовать для больших образцов как выносную измерительную головку. В частности, когда поверхность образца слишком хрупкая или нежная, или когда невозможно обеспечить достаточную жесткость образца в области сканирования (например, для таких мягких образцов как кожа или ткани). Теперь мы можем предложить решение и для таких задач!
Методики измерений
-
На воздухе: Контактная АСМ/МЛС/Резонансная АСМ (полуконтактная + бесконтактная)/Метод отображения Фазы/Метод модуляции силы/Изображение Силы Адгезии/Отображение сопротивления растекания /СЕМ /МЗК /МСМ /ЭСМ /АСМ, Силовая и токовая Литография
-
В жидкости: Контактная АСМ/МЛС/Резонансная АСМ (полуконтактная + бесконтактная)/Метод отображения Фазы/Метод модуляции силы/Изображение Силы Адгезии
Применения
Разработки магнитных и оптических ЗУ, исследования в материаловедении, биологии и медицине, контроль качества покрытий и полировки, в т.ч. в производстве полимеров, полупроводников и оптических деталей.
Важные особенности
- Мобильный, портативный, компактный АСМ
- Совместим с портативным компьютером
- Легко дополнить новыми возможностями
- Низкий уровень шума (<1 А по вертикали)
- Большой набор СЗМ методик
- Низкая потребляемая мощность (меньше 60 Вт)
- Контроллер с 22-разрядным составным ЦАП и ЦСП
- Легкий доступ почти ко всем внутренним сигналам
- Наличие опции для электрохимических измерений
- Возможность использования кантилеверов почти всех ведущих производителей
- Развитое программное обеспечение
Дополнительные возможности
- Установка на инвертированный оптический микроскоп Олимпус IX-70 (50) с использованием специальной платформы
- С помощью дополнительных блоков прибор SMENA можно превратить в прибор модели Solver P47H
- В сочетании с Closed-loop XY stage реалируется перемещение образца с высоким разрешением (нелинейность 0,1%)
Спецификация |
Размер образца |
Не ограничен Замечание: образцы размером до 100х100х20 мм могут быть помещены между опорами измерительной головки СМЕНА |
Сканеры |
50х50х2,5мкм, 90х90х5мкм |
Минимальный шаг сканирования |
0,006нм, 0,01нм |
Способ реализации сканирования |
Зондом |
Диапазон позиционирования образца |
5х5мм |
Разрешение позиционирования |
5мкм |
Оптическая система |
Числовая апертура 0,1; Увеличение от 58х до 578х; Горизонтальное поле зрения от 2 до 0,51мм |
Система контроля и управления |
СЗМ контроллер |
Вибрационная изоляция |
Активная антивибрационная система доступна по требованию |
SMENA-A - полная комплектация системы |
SMENA-B – система, позволяющая начать работу с методиками СЗМ уже сегодня |
Даная комплектация системы позволит вам использовать не только стандартные СЗМ методики, но также дополнительные, такие как Отображение сопротивления растекания, СЕМ, МЗК (SPoM) и Токовая Литография. |
Эта базовая комплектация системы, которая позволяет использовать такие основные методики как Резонансная Методика (RMS сигнал обратной связи). Контактная (Normal и Боковых сил) АСМ методики, Метод Модуляции Силы (viscoelastisity), RM литография, Изображение Силы Адгезии, Резонансные методики АСМ с RMS + синхронное детектирование амплитуды и фазы 1 - 9 гармоник для контроля обратной связи, Метод Отображения Фазы, МСМ, ЭСМ | |